 统计过程控制SPC高级应用培训

第一部分：常规控制图进阶（实战／易错的地方/误区／局限性）

1. 常规控制图所涉及的统计理论和使用条件

l 理论基础

l 使用条件，及各条件是否满足的检验方法

2. 在建立控制图时容易忽略的方面

l 准备不充分

Ø 相应的资源

² 专门的人员

² 工作流程（程序）

² 数据采集、上传、分析和报警

² 反馈机制的建立

Ø 所要控制的特性

² 定义使用SPC的过程和特性

Ø 使不必要的变差小化（已知、显著且可永久性纠正的，不必使用控制图来识别的变差）

Ø 确认测量系统的能力是足够的

l 控制图的建立流程及易犯的错误

Ø 基本步骤练习

Ø 子组定义和抽样方案及常见误区

² 子组容量与探测灵敏度的探讨及其应用

² 抽样频率

² 多生产流的抽样

Ø 对制造过程和数据的认识 - 针对常规控制图的制作条件

² 典型的不符合常规控制图建立条件的制造过程举例

² 如何对初始数据进行初始的分析

Ø 控制限的建立

² 需要的子组数量（为什么通常需要25个子组）

² 关于控制限标准差的个数

² 关于控制图的误判率

² 控制限与控制图的灵敏度

² 均值-极差/标准差控制图中为什么需要先判断极差/标准差图

Ø 过程控制解释（判异准则）

² 典型的和非典型的失控趋势

² 分析失控原因及制定遏制措施的途径：

失控类型 + 数据点日志 + 控制图灵敏度 + 过程专业知识

Ø 演示与练习：均值-极差图的制作、分析及遏制措施

Ø 受控与能力–如何评价分析用控制图可以用于在线控制

l 在线控制图

Ø 在线控制图的失控判断准则与分析用控制图有什么不同

Ø 常见的在线控制图使用误区

Ø 在线用控制图更新

² 什么情况下需要更新

² 更新时需要改变控制图的哪些地方

l Xbar-S与Xbar-R的比较

l I-MR单值-移动极差图

Ø 使用条件及使用I-MR的典型制造过程

Ø 极差长度的概念及长度的选择（案例演示与练习）

1. 常规控制图存在的局限性分析

第二部分：非正规条件下的控制图

1. 概述

2. 非正态数据的控制图

l 对数据分布的正态性的理解

l 非参数方法 - 正态性转换后仍然不正态的情况

l 总结

3. 非单一变异源数据的控制图

l 对非单一变差源的理解

l I-MR-R/S控制图

4. 自相关（非独立）数据的控制图 – 基于AR模型的残差控制图

第三部分：特殊控制图

1. Z-MR（标准化单值图，适用于多品种小批量产品过程的控制）

2. 时间加权控制图 -适用于均值变化微小的情况

l EWMA时间加权移动平均控制图

l CUSUM累积和控制图

第四部分：多变量正态控制图

1. 概述

2. T方控制图

3. 广义方差控制图

4. 多变量EWMA控制图

计量型控制图的选择方法及综合练习

第五部分：过程能力分析

1. 过程能力&性能的概念与基本步骤

2. CP与CPK，以及CPK与PPK的联合应用

3. 基于目标值的过程能力分析

4. 单边公差时，如何进行基于目标值的过程能力分析

5. 设备能力指数Cmk

6. 组间和组内过程能力分析

7. 非正态数据的过程能力分析

8. 多变量分布的过程能力

过程能力分析综合练习

第六部分：基于概率的控制图

1. 红绿信号灯控制图

2. 预控制图

第七部分：企业如何推行统计过程控制

1. 获得领导层的哪些支持

2. 试应用

3. 成果展示

4. 推广应用