四. 电路结构仿真和调试
本节使用candence软件,基于TSMC的0.35mm工艺对电路进行进一步的仿真和调试。电路如图4.1所示。
图 4.1 Banba结构的电路仿真图
1. 温度系数调整
实测结果显示,输出电压Vref的温度系数在原始参数下变化很大,这是因为计算时将所有器件考虑为理想状态,这在实际电路仿真中是不可能的,实际MOS管和晶体管都有计算时难以考虑的二级效应,电容、电阻等也非理想。所以要对影响温度系数的参数进行调整,才能达到优温度系数。
另外一个重要影响是运放的失调电压,实际运放的开环增益是有限的并非无穷大,所以Vx和Vy的电压不会完全相等。所以,在实际电路中对Banba结构进行了适当修改,使用两级PNP管串联。如图3.1中,根据理论分析得到式(4.1)。
(4.1)
M1管的宽长比m越大,M1管通过电流镜得到的电流越大,失调电压Vos的影响越小。温度系数还和电阻R2/R3比值有关。
1).先对M1管的宽长比进行扫描,结果如图4.2。
图 4.2 M1管不同宽长比下输出电压随温度变化曲线
为了更直观的显示好的宽长比,根据PPM计算公式(4.2)
(4.2)
使用cadence里面的计算工具得到图4.3,
图4.3 M1管不同宽长比下的PPM值
所以M1管的宽长比为18u/0.5u时PPM小,为3.508ppm/℃。
哪里有射频培训机构
|