曙海教学优势
曙海培训的课程培养了大批受企业欢迎的工程师。大批企业和曙海
建立了良好的合作关系。曙海培训的课程在业内有着响亮的知名度。
本课程，秉承二十一年积累的教学品质，以项目实现为导向,老师将会与您分享设计的全流程以及工具的综合使用经验、技巧。
DFT可测试性设计培训课程
培训大纲
第一阶段
课程大纲：
1. VLSI test
2. DFT要点
3. DFT设计流程
4. DFT设计技巧
5. Fault model
6. ATPG
7. ATPG技巧
8. Fault simulation
9. Fault 要点
10. Fault 技巧
11. Fault 流程
12. Scan
13. 扫描技巧
14. 扫描要点
15. 扫描流程
16. JTAG
17. Logic BIST
18. Test compression
19. Memory test
20. Memory 测试要点
21. Memory测试流程
22. Memory测试技巧
23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法
24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)
25.BSD 基本单元和JTAG测试
第二阶段 SCAN synthesis
1.Scan概念及方法介绍
2.Scan实现流程及问题解决
3.Scan DRC violation讲解及解决方法
4.Scan技巧
第三阶段 ATPG
1.ATPG介绍
2.Fault models
3.Fault simulation
4.ATPG DRC Violation的解决方法
5.ATPG patten generation
6.测试压缩及方法
7.ATPG patten验证
8.ATPG技巧
第四阶段 JTAG/1500
1.JTAG方法
2.JTAG及其扩展应用
3.JTAG实现及验证
4.JTAG技巧
第五阶段 BIST/MBIST
1.BIST/MBIST 方法
2.Memory类型介绍
3.BIST solution
4.MBIST算法
5.MBIST验证
6.BIST/MBIST 技巧
