 DFT可测试性设计理论和实践培训班 |
| 课程说明： |
该课程是对可测试设计（DFT）内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习，学员不仅能对DFT的概念及理论有系统的认识，更重要的是通过课堂内容及实验的讲解，可以对DFT所涉及的问题有一定的分析和解决能力。本课程涵盖常用的方法---扫描合成（SCAN synthesis）,内建自我测试（BIST），自动测试向量产生（automatic test pattern generation）,及错误模型（fault simulation）等，
课程依托大型SOC项目，系统介绍了在实际项目中，怎样考虑所面临的问题，并最终采取有效的方法
解决测试品质及测试成本等问题。
本课程适合于使用数字电路进行科研和芯片设计的学生和工程师，也适合于有志于从事数字芯片设计工作，期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理工科本科生或研究生。
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| 学费、班级规模、时长和学费(学费包含价值1万元的完全属于自己永久使用的服务器，该服务器已经包含芯片设计软件、工艺技术库和项目案例，软件可帮助你安装在自己电脑上) |
| ★培训时长：3个月（周末上课） ★班级规模：3到5人 |
| 工作就业 |
◆外地学员：代理安排食宿（需提前预定）
☆注重质量
☆边讲边练
☆合格学员免费推荐工作
☆合格学员免费颁发相关工程师等资格证书，提升您的职业资质
专注高端培训12年，曙海提供的证书得到本行业的广泛认可，学员的能力
得到大家的认同，受到用人单位的广泛赞誉。 |
| 最新优惠 |
| ◆团体报名优惠措施：两人95折优惠，三人或三人以上9折优惠 。注意：在读学生凭学生证，即使一个人也优惠500元。 |
| 质量保障 |
1、培训过程中，如有部分内容理解不透或消化不好，可免费在以后培训班中重听；
2、培训结束后,培训老师留给学员手机和Email,免费提供半年的技术支持，充分保证培训后出效果；
3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。 ☆合格学员免费颁发相关工程师等资格证书，提升您的职业资质。专注高端培训13年，曙海提供的证书得到本行业的广泛认可，学员的能力得到大家的认同，受到用人单位的广泛赞誉。 |
DFT可测试性设计理论和实践培训班 |
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第一阶段 |
课程大纲：
1. VLSI test
2. DFT要点
3. DFT设计流程 4. DFT设计技巧 5. Fault model 6. ATPG 7. ATPG技巧 8. Fault simulation 9. Fault 要点 10. Fault 技巧 11. Fault 流程 12. Scan 13. 扫描技巧 14. 扫描要点 15. 扫描流程 16. JTAG 17. Logic BIST
18. Test compression
19. Memory test 20. Memory 测试要点 21. Memory测试流程 22. Memory测试技巧 23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法
24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)
25.BSD 基本单元和JTAG测试
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第二阶段 SCAN synthesis |
1.Scan概念及方法介绍
2.Scan实现流程及问题解决 3.Scan DRC violation讲解及解决方法 4.Scan技巧
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第三阶段 ATPG |
1.ATPG介绍
2.Fault models
3.Fault simulation
4.ATPG DRC Violation的解决方法
5.ATPG patten generation
6.测试压缩及方法
7.ATPG patten验证
8.ATPG技巧
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第四阶段 JTAG/1500 |
1.JTAG方法
2.JTAG及其扩展应用
3.JTAG实现及验证
4.JTAG技巧
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第五阶段 BIST/MBIST |
1.BIST/MBIST 方法
2.Memory类型介绍 3.BIST solution 4.MBIST算法 5.MBIST验证 6.BIST/MBIST 技巧
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