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ASPEN培训课程
培训对象： DFT工程师、测试工程师、芯片可测性设计人员、良率分析工程师。
培训目标：
掌握ATPG自动测试向量生成的方法和流程。
能够分析故障覆盖率和故障类型。
熟练进行测试向量优化减少向量数量。
具备测试诊断和良率分析基础能力。
培训内容介绍：
二、ATPG原理与算法： 了解ATPG的基本算法（D算法、FAN、SOCRATES），理解故障激活和故障传播的原理。
三、ATPG流程设置： 配置ATPG工具（TetraMAX、FastScan），设置故障类型（stuck-at、transition）、测试模式。
四、故障覆盖率分析： 运行故障仿真计算故障覆盖率，分析未检测故障的原因（难测故障、冗余故障）。
五、压缩技术： 应用测试向量压缩技术减少测试数据量和测试时间，平衡压缩率与硬件开销。
六、跳变故障测试： 生成跳变故障（transition delay fault）测试向量，检测延迟缺陷。
七、路径延迟测试： 生成路径延迟测试向量检测关键路径上的延迟缺陷，确保时序收敛。
八、桥接故障测试： 生成桥接故障测试向量，检测相邻信号线短路引起的故障。
九、IDDQ测试： 理解IDDQ测试原理，生成IDDQ测试向量检测静态电流异常。
十、向量仿真与验证： 进行故障仿真验证向量的检测能力，使用仿真器（VCS、Modelsim）仿真测试向量。
十一、测试诊断： 分析测试失败数据定位缺陷位置，指导物理失效分析（PFA）。
十二、实战项目：测试向量生成： 完成从ATPG设置、向量生成、故障分析到向量优化的全流程。
