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ASPEN培训课程
培训对象： DFT工程师、可测性设计专家、测试工程师、芯片设计人员。
培训目标：
理解可测性设计的基本概念和测试原理。
掌握扫描链（Scan Chain）的设计和插入方法。
能够进行存储器内建自测试（MBIST）设计。
具备ATPG向量生成和故障仿真能力。
培训内容介绍：
二、扫描链设计基础： 将普通寄存器替换为扫描寄存器，连接形成扫描链，定义扫描输入和扫描输出端口。
三、扫描链插入流程： 使用DFT工具（DFTCompiler、TetraMAX）自动插入扫描链，优化扫描链长度和平衡。
四、扫描测试协议： 定义扫描测试协议（scan_enable、scan_clock、scan_in/out），设置扫描模式和功能模式的切换。
五、ATPG基础： 了解自动测试向量生成（ATPG）的基本原理，掌握D算法、FAN算法等ATPG算法。
六、ATPG向量生成： 运行ATPG生成固定故障和跳变故障的测试向量，优化向量数量提高测试覆盖率。
七、故障仿真： 进行故障仿真验证测试向量的故障检测能力，分析未检测到的故障，改进设计。
八、存储器BIST架构： 了解MBIST的基本架构（控制器、地址生成器、数据生成器、比较器），掌握March算法。
九、MBIST插入流程： 使用工具自动插入MBIST逻辑，连接存储器端口，定义测试接口和控制寄存器。
十、BIST控制器设计： 设计BIST控制器，支持多种March算法，实现故障诊断和冗余修复。
十一、边界扫描（JTAG）： 了解IEEE 1149.1边界扫描标准，集成JTAG TAP控制器，实现芯片级测试访问。
十二、实战项目：完整DFT设计： 完成包含扫描链、MBIST和边界扫描的完整DFT设计，生成ATPG向量。
