芯片DFT设计实战培训课程
课程简介:
DFT设计工程师,是随着测试应运而生的一个岗位,是IC行业的多面手。目前在芯片设计中都离不开DFT。通过企业级真实案例由浅入深、由易入难,让学员熟练掌握企业级DFT。
第一阶段
课程大纲:
1. VLSI test
2. DFT要点
3. DFT设计流程
4. DFT设计技巧
5. Fault model
6. ATPG
7. ATPG技巧
8. Fault simulation
9. Fault 要点
10. Fault 技巧
11. Fault 流程
12. Scan
13. 扫描技巧
14. 扫描要点
15. 扫描流程
16. JTAG
17. Logic BIST
18. Test compression
19. Memory test
20. Memory 测试要点
21. Memory测试流程
22. Memory测试技巧
23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法
24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)
25.BSD 基本单元和JTAG测试
第二阶段 SCAN synthesis
1.Scan概念及方法介绍
2.Scan实现流程及问题解决
3.Scan DRC violation讲解及解决方法
4.Scan技巧
第三阶段 ATPG
1.ATPG介绍
2.Fault models
3.Fault simulation
4.ATPG DRC Violation的解决方法
5.ATPG patten generation
6.测试压缩及方法
7.ATPG patten验证
8.ATPG技巧
第四阶段 JTAG/1500
1.JTAG方法
2.JTAG及其扩展应用
3.JTAG实现及验证
4.JTAG技巧
第五阶段 BIST/MBIST
1.BIST/MBIST 方法
2.Memory类型介绍
3.BIST solution
4.MBIST算法
5.MBIST验证
6.BIST/MBIST 技巧
第六阶段 DFT项目实战
DFT项目实战概述
DFT策略
自上而下的流程
项目实战
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发展前景:
DFT技术一直再进步,所以需要DFT工程师不停的学习和探索新技术,DFT可以有许多创新思想在里面,比如说设计公司自用的好的DFT模块,设计时钟和复位网络,调高测试覆盖率,debug ATE测试结果。
适用人群:
有意应聘DFT设计工程师的在职人员(本科及以上学历);
电子类在校研究生(含材料、工艺、物理、自动化等专业);
职业简介:
1.将DFT技术,常见的如Scan,Mbist,Boundary Scan技术,实现到设计中去
2.产生测试向量并验证测试向量
3.协助后端实现工程师完成test模式的时序收敛
4.协助测试工程师进行机台调试,debug 测试failure,提高芯片良率
工作内容:
1.参与芯片DFT架构定义和设计
2.完成DFT电路设计,包括Scan、Mbist、Bscan等
3.协助后端团队处理DFT相关的时序分析和timing收敛工作
4.使用EDA工具生成测试向量,并且进行仿真验证
5.参与ATE,debug 测试failure